WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡每個線對組由4塊規(guī)格尺寸相同的薄片平行排列構(gòu)成（薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開），兩側(cè)放置最厚薄片的2倍厚度的校準塊，每組線對卡里面的金屬片組間隔為2.5mm。
WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡符合《GB/T 35391-2017無損檢測 工業(yè)計算機層析成像(CT)檢測用空間分辨力測試卡》要求
線對卡,按分辨力高低分為三種:
1)Ⅲ級線對卡
2)Ⅱ級線對卡
3)工級線對卡;
線對卡是用來測試工業(yè)CT系統(tǒng)空間分辨力的一種標準試件,它是由鋼、硅或其他由供需雙方商定的材料制作的薄片構(gòu)成的線對組,每個線對組由4塊規(guī)格尺寸相同的薄片平行排列構(gòu)成(薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開),兩側(cè)放置最厚薄片的2倍厚度的校準塊,其三維結(jié)構(gòu)如圖1、正視圖如圖2所示。
WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡實物拍攝圖：
WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡參數(shù)規(guī)格：
每個線對組中的薄片厚度為T，相鄰片間隙寬度(金屬隔片厚度)也為 T。各種等級線對卡的薄片厚度 T 及其對應的線對數(shù)見表 A.1。
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等級
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第1組
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第2組
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第3組
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第4組
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第5組
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片厚T
mm
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線對數(shù)
Lp/mm
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片厚T
mm
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線對數(shù)
Lp/mm
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片厚T
mm
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線對數(shù)
Lp/mm
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片厚T
mm
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線對數(shù)
Lp/mm
|
片厚T
mm
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線對數(shù)
Lp/mm
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Ⅲ級
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0.100
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5.0
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0.125
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4.0
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0.150
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3.3
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0.200
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2.5
|
0.250
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2.0
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Ⅱ級
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0.150
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3.3
|
0.200
|
2.5
|
0.250
|
2.0
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0.300
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1.7
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0.500
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1.0
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Ⅰ級
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0.250
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2.0
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0.300
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1.7
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0.500
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1.0
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0.650
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0.8
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1.000
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0.5
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每個線對組中的薄片長度L 為10mm，寬度W為8mm。
外型尺寸長(L)，寬(W)，高(H)，單位：mm。
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圖片
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等級
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Ⅰ級
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Ⅱ級
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Ⅲ級
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線對
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0.5至2.0LP/m
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1.0至3.3LP/m
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2.0至5.0LP/m
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尺寸（mm）
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33Lx26Wx20H
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30Lx26Wx20H
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圓孔卡或細絲卡,按孔徑或絲徑大小分為兩種:
1)Ⅱ級圓孔卡或Ⅱ級細絲卡
2)工級圓孔卡或I級細絲卡;
WEK35391-2017圓盤卡
圓孔卡是在均質(zhì)圓柱形基體上,加工一系列直徑不同的圓形孔,圓孔按行有序排列,其結(jié)構(gòu)如圖3所示。細絲卡是在均勻低密度圓柱形基體上,排列一系列直徑不同的細絲,細絲按行有序排列。
圓盤卡是由均質(zhì)的剛性材料制作的圓柱體,其結(jié)構(gòu)如下圖所示。圓盤卡材質(zhì)應與被檢測物體的射線吸收特性相同或相近,推薦使用鋼或硅(或由供需雙方商定的材料制作)。
GBT35386-2017空氣間隙試塊
空氣間隙試塊是在均質(zhì)剛性基體材料[一般為鋼(例如 Q235)、鋁(如 3003)、聚丙烯]中人工制造一定直徑和高度的空氣間隙，使得切片厚度內(nèi)的局部平均密度發(fā)生變化，從而測試密度分辨力。其基本結(jié)構(gòu)如圖 A.5所示。
基體是由兩個高密度圓柱體組成，高度在15mm以上。凹槽直徑φ不小于20mm圓柱體直徑可根據(jù)實際情況規(guī)定，一般不小于 3φ，凹槽深度 h根據(jù)切片厚度 .和實際情況確定。
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