1.儀器設(shè)備簡介
Bruker D8 Advance采用當(dāng)前的技術(shù),能夠jq地對(duì)金屬和非金屬多晶樣品進(jìn)行物相定性、定量分析。儀器應(yīng)包括長壽命X射線光管、高精度測角儀、能量色散探測器以及相關(guān)外圍設(shè)備。設(shè)備總價(jià)14萬美元。
采用新一代陶瓷X光管技術(shù),焦斑位置穩(wěn)定,衰減小,壽命長,尺寸標(biāo)準(zhǔn);采用封閉靶技術(shù),后期維護(hù)方便;新一代林克斯XE探測器,分辨率比上一代提升一個(gè)數(shù)量級(jí)。
2.測試項(xiàng)目
(1)物相定性分析
(2)物相定量分析
(3)jq測定點(diǎn)陣常數(shù)
(4)晶粒大小及晶格畸變測定
3.送樣要求
可接收粉末、塊體和薄膜測試,具體要求如下。
粉末:過200目篩,樣品量不少于0.5g;極少量樣品可選無背景樣品臺(tái)。
塊體:被測面平整且盡量光滑,確保樣品能裝入φ25mm×3mm的樣品槽,若樣品尺寸更大,請(qǐng)咨詢?cè)O(shè)備聯(lián)系人。
薄膜:若采用反射模式,尺寸要求同塊體;若選用透射模式,要求樣品有一定的柔韌性,具體咨詢?cè)O(shè)備負(fù)責(zé)人。
液體及膠體樣品:無法檢測。
測試案例: