來自德aixCCT公司的TF NLYZER 2000E/3000是擴(kuò)展極強(qiáng)的模塊化鐵電壓電分析閂儀，欣源科技（北京）,.欣源科技（北京）|||TF2000E鐵電分析儀
,欣源科技（北京）有限公司，具備鐵電、壓電、熱釋電材料有基本特測(cè)試功能，欣源科技（北京）,.欣源科技（北京）|||TF2000E鐵電分析儀
,欣源科技（北京）有限公司，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。
模塊化設(shè)計(jì)的TF nalyzer 2000 E/3000具有優(yōu)異的擴(kuò)展。
FE模塊-鐵電標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試；
MR模塊-磁阻和鐵材料測(cè)試；
RX模塊-弛豫電流測(cè)試；
DR模塊-自放電測(cè)試。
TF nalyzer 2000E :
測(cè)試基本單元：包括內(nèi)置完整的專用計(jì)算機(jī)機(jī)和測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測(cè)試軟件等。
FE模塊標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能：
Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率（標(biāo)準(zhǔn)FE模塊0.001Hz~5kHz）；
Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試；
PUND 脈沖測(cè)試；
Fatigue 疲勞測(cè)試；
Retention 保持力；
Imprint 印跡；
Leakage current漏電流測(cè)試；
Thermo Measurement 變溫測(cè)試功能。
FE模塊可選測(cè)試功能：
C-V curve電容-電壓曲線；
Piezo Measurement壓電能測(cè)試；
Pyroelectric Measurement熱釋電能測(cè)試；
In-situ Compensation 原位補(bǔ)償；
DLCC 動(dòng)態(tài)漏電流補(bǔ)償功能。
技術(shù)說明：
電壓范圍：  /- 25 V（可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至 /- 10KV）；
電滯頻率：5 kHz（標(biāo)準(zhǔn)FE模塊）；
最小脈沖寬度：2 μs；
最小升時(shí)間：1 μs；
電流放大范圍：1p～1；
{zd0}負(fù)荷電容：1μF；
輸出電流峰值： /-1 。
可擴(kuò)展部件：
高壓放大器、激光干涉儀、FM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺(tái)、變溫塊樣品盒、塊變溫爐、薄膜e31測(cè)試平臺(tái)、超導(dǎo)磁、PPMS等。
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TF nalyzer 3000:
測(cè)試基本單元：包括內(nèi)置完整的專用計(jì)算機(jī)機(jī)和測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測(cè)試軟件等。
FE模塊標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能：
Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率（增強(qiáng)型FE模塊250kHz，高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz）；
Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試；
PUND 脈沖測(cè)試；
Fatigue 疲勞測(cè)試；
Retention 保持力；
Imprint 印跡；
Leakage current漏電流測(cè)試；
Thermo Measurement 變溫測(cè)試功能。
FE模塊可選測(cè)試功能：
C-V curve電容-電壓曲線；
Piezo Measurement壓電能測(cè)試；
Pyroelectric Measurement熱釋電能測(cè)試；
In-situ Compensation 原位補(bǔ)償；
DLCC 動(dòng)態(tài)漏電流補(bǔ)償功能；
Impedance Measurement 阻抗測(cè)試 (僅適用于高速增強(qiáng)型)。
技術(shù)說明：
電壓范圍：  /- 25 V（可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至 /- 10KV）；
電滯頻率：增強(qiáng)型FE模塊250kHz，高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz；
最小脈沖寬度：50ns；
最小升時(shí)間：10ns；
{zd0}疲勞頻率：20MHz；
電流放大范圍：1p～1；
{zd0}負(fù)荷電容：1nF；
輸出電流峰值： /-1 。
可擴(kuò)展部件：
高壓放大器、激光干涉儀、FM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺(tái)、變溫塊樣品盒、塊變溫爐、薄膜e31測(cè)試平臺(tái)、超導(dǎo)磁、PPMS、阻抗分析儀等。
MR模塊是用來研究磁阻和鐵材料的。
此模塊提連續(xù)電流激勵(lì)和測(cè)試，樣品的電壓降通過高精度四點(diǎn)測(cè)試。
RX模塊是用來研究介電和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。
該測(cè)試能將材料的馳豫電流和漏電流分開，并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流。
DR模塊用于研究電介質(zhì)材料的自漏電。
由于測(cè)試件非常接近實(shí)情況，因此通過這種方式可容易地測(cè)試應(yīng)用于DRM材料的合適。
針對(duì)工業(yè)方面的應(yīng)用，TF nalyzer 2000E/3000提了256個(gè)自動(dòng)測(cè)試的通道，大大擴(kuò)展了該儀器的測(cè)試功能。
以有的模塊可根據(jù)您的測(cè)試需求以及科研方向進(jìn)行獨(dú)立選擇或者任意組合。
欣源科技SYNERCE{dj2}代理德aixCCT公司鐵電壓電熱釋電分析儀等系列產(chǎn)廴品，包括：
鐵電分析儀(鐵電測(cè)試儀、TF2000E、TF nalyzer 2000E/3000、極化測(cè)量?jī)x)/壓電分析儀(壓電測(cè)試儀)/熱釋電分析儀(熱釋電測(cè)試儀)，壓電材料綜合表征系統(tǒng)aixPES、多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀aixPES-MR、高低溫塊壓電分析儀aixPES-600/800、電卡效應(yīng)測(cè)試儀ECM、熱激極化電流測(cè)試儀TSDC、超薄薄膜壓電雙光束激光干涉儀aixDBLI、陶瓷多層執(zhí)行器測(cè)試儀(aixCM、陶瓷多層驅(qū)動(dòng)器測(cè)試儀、陶瓷多層電容器測(cè)試儀)，機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀aix4PB、阻變式存儲(chǔ)器測(cè)試儀RRM、鐵電遲豫電流測(cè)試儀aixPES-RX、鐵電自放電測(cè)試儀aixPES-DR、鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀FeRM、熱電能測(cè)試儀COMTESSE(塞貝克系數(shù)測(cè)試儀)。

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