試驗項目：  環(huán)境應力篩選 （ESS）;  熱沖擊（溫度循環(huán)）測試; 斜率溫度變化試驗
            高、低溫循環(huán)試驗;  溫濕度循環(huán)試驗;  高溫高濕試驗;  恒溫恒濕試驗
            低溫低濕試驗;  結露試驗;  耐候試驗（暴露）;  超低溫負載試驗 
            冷熱沖撃試験（垂直+水平）

適用于電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天等行業(yè)。太崎儀器提供的熱沖擊試驗箱應用：用于對儀器儀表、電工電子及其它產(chǎn)品、材料、零部件、jy設備進行高、低溫試驗和快速溫度變化試驗，以評價其在一定的溫度變化條件下貯存和使用的適應性。
  
溫度沖擊試驗箱
產(chǎn)品應用：用于對儀器儀表、電工電子及其它產(chǎn)品、材料、零部件、jy設備進行溫度沖擊試驗，以評價其在溫度沖擊條件下貯存和使用的適應性。
方式 予冷溫 予熱溫度 高?低溫   常溫
溫度設定範囲 時間設定範囲 溫度變動幅 
試料靜止形,冷溫風切換方式，2 區(qū)?3 區(qū)可切換
試験溫度範囲
低溫試験：-70～0℃， 高溫試験：60～200℃
低溫試験：-70～0℃， 高溫試験：60～200℃
-80℃～試験室溫度低溫設定値
試験室溫度高溫設定値～200℃
0～99 時間 59 分 0～99 時間 59 分 ±0.5℃

溫度上昇時間(高溫槽) 溫度下降時間(低溫槽)
溫度循環(huán)性能
測試區(qū)域 ＊２ ＊２ 
常溫～200℃ ：15 分以內 常溫～－75℃：45 分以內
循環(huán)次數(shù)：5 個循環(huán)（低溫始動）
塑膠鑄型ＩＣ
33 kg（IC 24kg＋搭載治具 2 段 9kg）
低溫常溫高溫
試験室溫度 試験時間 溫度測定位置
－55℃ 30 分 空氣溫度 5 分 ＋150℃ 30 分

溫度復帰時間
試験室內容量 720 mm × 920 mm × 460 mm
容許試料重量{zd0} 50kg（底面 40kg 以下，試料棚 12kg／枚以下
試験室寸法（寬×深×高）720 mm × 920 mm × 460 mm
  5 分以內 300 L ）
試料靜止形,冷溫風切換方式，2 區(qū)?3 區(qū)可切換
低溫試験：-70～0℃， 高溫試験：80～200℃
低溫試験：-70～0℃， 高溫試験：80～200℃
-82℃～試験室溫度低溫設定値 試験室溫度高溫設定値～200℃
0～99 時間 59 分 0～99 時間 59 分 ±0.5℃
低溫試験：-70～0℃， 高溫試験：60～200℃
低溫試験：-70～0℃， 高溫試験：60～200℃
-80℃～試験室溫度低溫設定値 試験室溫度高溫設定値～200℃
0～99 時間 59 分 0～99 時間 59 分 ±0.5℃

溫度上昇時間(高溫槽) 溫度下降時間(低溫槽)
溫度循環(huán)性能＊２
測試區(qū)域  常溫～200℃ ：25 分以內 常溫～－75℃：70 分以內
連續(xù)運轉循環(huán)次數(shù)：1000 個循環(huán)（低溫始動）
塑膠鑄型ＩＣ 10 kg（IC 5.5 kg＋搭載治具 1 段 4.5kg）
溫度復帰時間5 分以內
試験室內容量 200 L
試験時間－40℃ 30 分 ＋125℃ 30 分
試験室寸法（寬×深×高） 630 mm × 690 mm × 460 mm 
{zd0} 50kg（底面 40kg 以下，試料棚 11kg／枚以下）