15JE數(shù)顯測量顯微鏡 15JE數(shù)顯測量顯微鏡 測量顯微鏡是光學計量儀器之一種,它結構簡單,操作方便,使用范圍極廣,主要用途如下:直角坐標中測定長度,例如測定孔距,幾面距離、刻線距離、刻線寬度、鍵槽寬度狹縫寬度、通孔外圓直徑等等:轉(zhuǎn)動度盤測定角度,例如對刻度盤、樣板、量規(guī)、鉆孔、模板、刀具磨制及幾何形狀復雜的零件進行角度測量;作為普通顯微鏡觀察,以比較法檢查工作表面粗糙度,鑒定冶金工業(yè)的礦石標本,檢定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等等。
技術參數(shù):
測量精度:儀器示值誤差±(5+L/15)um( 儀器示值誤差包括測量誤差與儀器系統(tǒng)誤差)
注:測量地點溫度變化(20±3)℃; L—被測件長度(mm)
備 注: