PXS8-Te同軸光體視顯微鏡 PXS8-Te同軸光體視顯微鏡 PXS8-Te同軸光體視顯微鏡適用于電子線路板、芯片封裝、珠寶鑒定、研相礦本分析、微小精密零件品質(zhì)控制、裝配、公安、銀行痕跡對比、教學(xué)示范、臨床手術(shù)樣本、農(nóng)業(yè)選種,紡織品檢驗、養(yǎng)殖業(yè)品種優(yōu)選、病理分析。 PXS8-Te來自美國的品牌,目前國內(nèi)僅有的高倍立體顯微鏡,我們采用和國外同步的同軸光技術(shù),以滿足對透明封裝后的芯片特殊檢測標(biāo)準(zhǔn)的使用要求。品質(zhì)優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng)使圖像更明亮,即使長時間觀測眼睛也不會疲勞。粗微動的調(diào)焦首次應(yīng)用在高倍體視上,使高倍調(diào)焦變得更加精準(zhǔn)。多種支架的選配,總能滿足復(fù)雜工位的操作要求。還有各種光譜光源的配合,幫助解決碰到的困難。
技術(shù)參數(shù):
鏡筒:雙目,45度傾斜
高眼點大視野目鏡:PLAN10X/20 mm
物鏡:0.9X-7.4X
變倍比:1:8.2
總放大倍數(shù):9-74X
調(diào)焦:粗微動調(diào)焦,粗動立桿高度300mm,升降范圍105mm
工作距離:102mm
光源:同軸光.