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x-rasy檢測設(shè)備主要電子元器件、封裝元器、半導(dǎo)體元器件、BGA、CPU、PCBA、IC芯片、集成電路、連接器、電熱絲、電路板、發(fā)熱管、發(fā)熱絲、電子產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)是否變形、脫焊、空焊移位、等檢測;同時還可用于:鑄件、壓模鑄件、注塑件、氣孔、氣泡、孔徑等非破壞性無損檢測。