SEM,EDS,掃描電鏡,能譜,分析,檢測,測定,測試,服務

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SEM,EDS,掃描電鏡,能譜,分析,檢測,測定,測試,服務

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1.SEM EDS掃描電鏡

是依據電子與物質的相互作用。當高能的入射電子轟擊物質表面時，被激發(fā)的區(qū)域將產生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產生的電磁輻射.

2. SEM EDS掃描電鏡能譜應用

材料，粉體，礦物粒徑大小，表面斷面形貌分析, 填料分散狀態(tài)復合材料結構, 材料晶型分析晶粒大小,材料物相分析。元素定性分析。

3.適用標準

GB/T 16594-2008微米級長度的掃描電鏡測量方法通則

GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法

如果您有任何檢測方面的疑問，請隨時與我們聯(lián)系，我們將根據您的商品，提供最適合您的檢測服務

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