HP4291B阻抗析儀


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HP4291B主要特性與技術(shù)指標(biāo) 
4個(gè)元件測試夾具（被測件尺寸：0.5 mm至20 mm） 
HP4291B獨(dú)立選擇2個(gè)通道的參數(shù) 
直接讀取介電常數(shù)、導(dǎo)磁率（選件） 
2個(gè)材料夾具（工作溫度：-55至+200攝氏度） 
多功能析（溫度、科爾-科爾圖表、松弛時(shí)間） 
掃描參數(shù)（頻率、交流電平、直流偏置、溫度）
HP4291B描述 
Agilent 4291B射頻阻抗/材料析儀是針對(duì)表面封裝元器件和介電/磁性材料的高精度測量的完


整解決方案。與反射測量技術(shù)不同，Agilent 4291B使用直接的電流－電壓測量技術(shù)，可在廣泛


的阻抗范圍內(nèi)提供更jq的阻抗測量結(jié)果。
基本阻抗精度是+/- 0.8%。高Q精度有利于進(jìn)行低損耗元器件析。內(nèi)置合成器掃頻范圍從1 


MHz到1.8 GHz，具有1 MHz的分辨率。1.8米長的精密電纜可將析儀連接到測試站，以便您將


測試點(diǎn)延伸到析儀之外，而不會(huì)影響測量精度。先進(jìn)的矩陣和錯(cuò)誤補(bǔ)償功能xc了夾具的測


量錯(cuò)誤，確保DUT/MUT的高精度和可重復(fù)性。
Agilent 4291B還提供自動(dòng)電平精度控制和用IBASIC程序功能監(jiān)視測試信號(hào)；可在恒壓或恒流下


測量器件。用可選的直流偏置(達(dá)40V和100mA)使
測量偏置獨(dú)立于阻抗特性。只要按一個(gè)按鈕，內(nèi)裝的等效電路析功能就自動(dòng)計(jì)算5種電路模型


的電路常數(shù)值。
Agilent 4291B有2個(gè)測量通道；每一個(gè)通道都可設(shè)置為測量1個(gè)(即Z)或2個(gè)(即Z-theta)阻抗參


數(shù)。具有分割顯示的彩色TFT可顯示有效示蹤和存儲(chǔ)器示蹤(保存在RAM中)。內(nèi)部軟盤驅(qū)動(dòng)器以


LIF或MS-DOS格式保存程序和測試數(shù)據(jù)。有了內(nèi)裝IBASIC，您就能從Agilent 4291B直接控制恒


溫箱或園片探測器這類外部測試設(shè)備，而不需要單獨(dú)的儀器控制器。