利用X射線熒光(XRF)進(jìn)行鍍層厚度測量和材料分 析,提高過程和質(zhì)量控制。
X-Strata是結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺(tái)式X射線熒光分 析設(shè)備,提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分 析。
它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分 析行業(yè)表現(xiàn)出{zy1}的分 析能力,可進(jìn)行多鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀X-Strata系列提供:
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無損分 析:無需樣品制備
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經(jīng)行業(yè)認(rèn)證的技術(shù)和可靠性,確保每年都帶來收益
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操作簡單,只需要簡單的培訓(xùn)
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分 析只需三步驟
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杰出的分 析準(zhǔn)確性和jq性
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在鍍層測厚領(lǐng)域擁有超過20年的豐富經(jīng)驗(yàn)
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一款全面強(qiáng)大的X射線熒光分 析儀,能夠檢測各種大小的樣品
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快速、jq分 析固體、液體和粉末
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程控臺(tái)的大樣品艙方便樣品擺放和測量(可選)
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集成電腦節(jié)省了臺(tái)式儀 器的空間
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高分辨率檢測器使檢測下限降到{zd1}
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應(yīng)用廣泛,包括光電池、RoHS有害元素篩選和貴金屬分 析