上海伯東 inTEST 高低溫循環(huán)測試機http://.應(yīng)用
閃存(Flash Memory)，是非揮發(fā)性內(nèi)存的一種，不需電力來維持數(shù)據(jù)的儲存，可分為 NOR Flash 以及 NAND Flash
兩種，前者用于儲存程序代碼，后者用于儲存數(shù)據(jù)。閃存應(yīng)用范圍涵蓋汽車電子、因特網(wǎng)、存儲器、DSL 電纜調(diào)制解調(diào)器、數(shù)字電視、照相手機、藍芽、
GPS、工業(yè)電子…等等。
http://.原因
為確保閃存可在極端溫度環(huán)境(例如: 油氣探勘、重工業(yè)以及航空領(lǐng)域)可正常實現(xiàn)穩(wěn)健的閃存讀／寫操作功能，因此在出廠前需要進行http://.，inTEST ThermoStream 超高速高低溫循環(huán)測試機憑借可測試溫度 -100 ℃ 至 +300 ℃，每秒可快速升溫或降溫 18°C，溫度精度 +-1.0℃等優(yōu)勢廣泛應(yīng)用于閃存制造行業(yè)。上海伯東作為 http://. 中國地區(qū)總代理，全權(quán)負責(zé)其新品銷售和售后維修服務(wù)
閃存http://.:
透過與愛德萬 (Advantest ) 內(nèi)存 IC 測試系統(tǒng)搭配之下，客戶可直接在極端溫度下測試閃存的運作特性。根據(jù)客戶實際要求，上海伯東推薦選用 http://.，并提供兩種溫度操作模式: Air mode 及 DUT mode
閃存多采用 DUT mode 即 Device under test t模式來進行http://.，將閃存與 inTEST ATS-545-M 使用 T type Thermocouple 相互連接，如此即可jq掌控受測物達到機臺所設(shè)定之溫度。閃存http://.同樣適合內(nèi)嵌式記憶體eMMC 溫度測試。更詳細的溫度測試操作方法歡迎致電 021-5046-3511
http://. Thermal Solutions 超過 50 年的熱能工程和測試系統(tǒng)開發(fā)領(lǐng)域?qū)＜摇ttp://. Thermal Solutions 提供超高速高低溫循環(huán)氣流沖擊設(shè)備，系列產(chǎn)品包含 THERMOSTREAM?，thermochuck，Chiller。其中 http://. ThermoStream 系列已全面取代 Thermonics 和 Temptronic。http://. 憑借提供精密的高低溫循環(huán)測試環(huán)境，作為{zy}的高速熱測試設(shè)備廣泛應(yīng)用于安捷倫(Agilent)、臺積電(TSMC)、IBM 等半導(dǎo)體、PCB、光通訊行業(yè)。上海伯東作為 http://. 大中華地區(qū)總代理，全權(quán)負責(zé) http://. 新品銷售和售后維修服務(wù)
上海伯東主營真空品牌:德國 http://. 真空設(shè)備;美國 http://. 深冷泵;美國 http://. 考夫曼離子源;美國 http://. 真空閘閥:美國 http://. 超高速高低溫循環(huán)試驗機;日本 http://. 離子蝕刻機等。
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