產(chǎn)地:美國
主要特點:
1) EX-6600 SDD 為您提供了最{dj0}的靈敏度和選擇度。
2) SDD 探測器具有電子噪音低和高計數(shù)率的特點,與Si-PIN 探測器相比,SDD 探測器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析結果。
3) 8 個二次靶為快速jq的定量分析提供了{zd0}程度的靈敏度,甚至是像合金、塑料、地質這樣復雜的基質中。wq自定義的二次靶使得檢測結果能達到sub-ppm 級別。
4) EX-6600 SDD 能夠分析液體、固體、泥漿、粉末、片狀物體等。并且分析樣品室能夠滿足不用形狀和尺寸樣品的需要。
5) 10個位置的自動進樣器整體設計允許了{zd1}限度的操作員干預、自動加載以及無人照管操作。
6) 該儀器檢測快速,精準,使用方便。它具有堅固的計算機硬件和強大的fxrj能檢測限低。
7) 多通道采集分辨率為改良過的探測器提供優(yōu)質的峰與峰的比率。
指標參數(shù):
測量能力
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測量范圍
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C(6)-Fm(100)
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元素含量分析范圍
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ppm - {bfb}(在指定應用領域中)
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X光管
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X光源
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Rh – 陽級標準
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X-射線電壓
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60kV, 300W
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激發(fā)模式
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二次靶激發(fā)模式
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穩(wěn)定性
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室溫條件下jq到0.1%
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X光探測器
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探測器
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硅鋰探測器(SDD),避免使用液態(tài)氮
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分辨率
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136 eV ± 5eV at 5.9 keV.
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窗口
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Be
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特性
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自動成樣
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10個位置
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工作條件
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空氣/真空/氦氣
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濾光片
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8款可選的軟件
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二次靶
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8款可選,Ge,Zr,Si,Ti,Fe,Mo,Sn,Gd.
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電源
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115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz
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脈沖加工
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多信道分析
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光學
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專利 WaG ? (廣角幾何)
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尺寸(L×W×H,cm)
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85×85×105(不含包裝),145×95×135(含包裝)
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重量
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170Kg(凈重),200Kg(總重)
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樣品室尺寸
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直徑28cm,高5cm
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電腦
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集成 pc
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軟件
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操作軟件
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nEXt,運行在Windows XP下的數(shù)據(jù)采集及fxrj包外加初級基本參數(shù)算法
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控制
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樣品激發(fā),探測,樣品操控,數(shù)據(jù)采集及處理的自動控制
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光譜處理
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逃逸峰及背底的自動去除,自動重疊峰解析,圖解式統(tǒng)計報告
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定量分析算法
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考慮共存元素效應的多元素回歸法(六種模式)??傆嫈?shù),凈計數(shù)擬合及數(shù)字濾波器法。
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報告
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用戶可自定的數(shù)據(jù)報表及打印形式
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