|
產(chǎn)地：美國
主要特點：
1) X-Calibur SDD非常適合于傳統(tǒng)的實驗室操作，它還包括了wq整合的電腦系統(tǒng)。堅固的設(shè)計和結(jié)構(gòu)使得該儀器成為移動實驗室的理想選擇。
2) 占地面積少、性能優(yōu)越。強大的50kV，50W的X-Calibur能量色散X射線熒光光譜儀裝在單機柜中并能在在工作臺上運行。
3) X射線管獨特的前端正極幾何體以及先進的光學設(shè)計，允許與樣本極近的連接，提高了儀器的靈敏度和性能。
4) 滿足MIL 810E沖擊測試要求的規(guī)格。
5) 強大nEXt軟件平臺能提供定性及定量分析，操作簡單。這一軟件平臺是所有產(chǎn)品通用的。
6) 自動取樣器位于隔離的樣本腔室內(nèi)，樣本腔室內(nèi)含有所有的輻射物，是安全互鎖的。樣本正面朝下被讀取，而X射線激發(fā)與檢測系統(tǒng)自下而上工作。分析較大的樣本時，自動取樣器可被移走。
7) 測量范圍從F(9)－Fm（100），元素含量分析范圍從sub ppm~{bfb}。
8) 避免使用液氮冷卻，節(jié)省費用和時間。
9)硅漂移探測器(SDD)具有電子噪音低和高計數(shù)率的特點，與Si-PIN 探測器相比，SDD 探測器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析結(jié)果，適用于重元素及輕元素。
主要用途：
1)石油-改善低濃度硫探測；
2)化學-添加劑分析和過程控制；
3)聚合物-添加劑分析；
4)法醫(yī)學-jjbba分析和移動的犯罪現(xiàn)場實驗室；
5)冶金-金屬識別和碎片分類；
6)涂料-改善金屬電鍍和硅涂層分析；
7)采礦-主要元素定量化；
8)環(huán)境應(yīng)用-野外篩檢工具；
技術(shù)參數(shù)：
|
測量能力
|
|
|
測量范圍
|
F(9)－Fm（100）
|
|
元素含量分析范圍
|
Sub ppm - {bfb}
|
|
X光管
|
|
|
X光源
|
Rh – 陽級標準
|
|
X-射線電壓
|
50kV, 50W.
|
|
激發(fā)模式
|
直接使用過濾器
|
|
穩(wěn)定性
|
室溫條件下jq到0.1%
|
|
X光探測器
|
|
|
探測器
|
硅漂移探測器（SDD），避免使用液態(tài)氮
|
|
分辨率
|
129 eV ± 5eV
|
|
窗口
|
Be
|
|
特性
|
|
|
自動成樣
|
8個位置(可選16個位置)
|
|
工作條件
|
空氣/真空/氦氣
|
|
濾光片
|
6款可選的軟件
|
|
電源
|
115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz
|
|
脈沖加工
|
多信道分析
|
|
尺寸（L×W×H，cm）
|
55×55×32(不含包裝)，80×80×65（含包裝）
|
|
重量
|
50Kg（凈重），90Kg(總重)
|
|
樣品室尺寸
|
22 x 22cm, H=5cm
|
|
電腦
|
集成 pc
|
|
軟件
|
|
|
操作軟件
|
nEXt，運行在Windows XP下的數(shù)據(jù)采集及fxrj包外加初級基本參數(shù)算法
|
|
控制
|
樣品激發(fā)，探測，樣品操控，數(shù)據(jù)采集及處理的自動控制
|
|
光譜處理
|
逃逸峰及背底的自動去除，自動重疊峰解析，圖解式統(tǒng)計報告
|
|
定量分析算法
|
考慮共存元素效應(yīng)的多元素回歸法（六種模式）?？傆嫈?shù)，凈計數(shù)擬合及數(shù)字濾波器法。
|
|
報告
|
用戶可自定的數(shù)據(jù)報表及打印形式
|
|
廣告
