美國貝爾bell 高斯計5180特 性： · 數(shù)據(jù)記錄功能 · {wy}采用DSP設計的手持式高斯計 · 0.1 G 分辨率 · 單位可選擇高斯，特斯拉，A/M · 高精度 · 2倍于競爭對手的響應頻率 · 模擬量輸出及USB接口 · 輕便手持式 · 自動零點/自動量程 · 極大值/極小值保持 · 高性能價格比 · 真有效值測量 應用： · 直流/交流電機測試 · 磁體測量及分類 · 磁場分布測試 · 揚聲器品質控制 · 工具剩磁測量 · 實驗室應用 · 無損探傷應用 · 發(fā)電廠/變電站干擾磁場測量 美國貝爾bell 高斯計5180技術參數(shù)： 型號 5170 5180 基本精度 2% 1% 頻率范圍 DC - 20 kHz DC - 40 kHz 屏幕顯示采樣率 模擬輸出采樣率 4次/秒 沒有 4次/秒 200K次/秒 量程 3檔 3檔 低量程 200G 300G 中量程 2KG 3KG 高量程 20KG 30KG 分辨率 0.1G 0.1G 單位 Gauss, Tesla, Gauss, Tesla, A/M 顯示位數(shù) 3 1/2 LCD 3 3/4 LCD 模擬輸出 - +3V F.S. 模擬輸出 - USB 一般信息： 工作溫度 0℃ 至 +50℃ 儲存溫度 -25℃ 至 +70℃ 電源 4節(jié)AA電池或外接電源 尺寸 (長 x 寬 x深) 6.9" (175 mm) x 3.9" (100 mm) x 1.44" (37mm) 探頭和附件： 5170探頭型號 5180探頭型號 HTH17-0604 4" Transverse Probe STH17-0404 4" Transverse Probe (incl. w/5170) STH17-0402 2" Transverse Probe SAH17-1904 4" Axial Probe SAH17-1902 2" Axial Probe STB1X-0201 Ultra Thin Probe (0.020" thick) HTD18-0604 4" Transverse Probe STD18-0404 4" Transverse Probe (incl. w/5180) STD18-0402 2" Transverse Probe SAD18-1904 4" Axial Probe SAD18-1902 2" Axial Probe STB1X-0201 Ultra Thin Probe (0.020" thick)