技術(shù)參數(shù):
測(cè)量范圍 0-1000μm 或0-40Mils
分辨率 0.1μm/0.01mils(0-99μm)或者 1mm(超過(guò)100μm)
保證公差 一點(diǎn)校準(zhǔn)后=/-1-3%n或者2μm
最小測(cè)量面積 5mm*5mm
最小弧面 凸面:0.12"(3mm)凹面:1.2"(30mm)
最小基體厚度 鐵基:20mils(0.5mm) 非鐵基:2mils(50mm)
校準(zhǔn) 零校準(zhǔn)/金屬薄片校準(zhǔn)
被測(cè)物體表面{zg}溫度 302華氏度(150華氏度)
外接延長(zhǎng)探頭
美國(guó)PHASE II涂層測(cè)厚儀PTG-3500
涂層測(cè)厚儀PTG-3500具有利用內(nèi)置探頭,自動(dòng)識(shí)別鐵基或者非鐵基。
技術(shù)參數(shù):
測(cè)量范圍 -1000μm
分辨率 0.1μm/0.01mils(0-99μm)或者 1mm(超過(guò)100μm)
保證公差 一點(diǎn)校準(zhǔn)后=/-1-3%n或者2μm
最小測(cè)量面積 5mm*5mm
最小弧面 凸面: 0.12"(3mm)凹面:1.2"(30mm)
最小基體厚度 鐵基: 20mils(0.5mm) 非鐵基:2mils(50mm)
校準(zhǔn) 零校準(zhǔn)/金屬薄片校準(zhǔn)
被測(cè)物體表面{zg}溫度 302華氏度(150華氏度)
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