電子部品設(shè)備的抗靜電性越來越小、靜電管理電壓也在不斷下降。用以前各種類測量儀來測量有困難。數(shù)字低電位測量儀可以測量100v以下的帶電(測量范圍從1v開始)。也可測量LSI表面等窄區(qū)域的靜電。 ?能測量靜電破壞原因的低電位靜電。 ?根據(jù)縮短測量距離、指定測量區(qū)域、可以在約20mm正方區(qū)域里進行測量。也能測量高精度小電子部品的表面電位。 ?顯示部和測量部分離、在狹小的地方能測量、并能直接觀察測量值。 ?從小電子零部件到大物體電位分布進行測量。 ?有2種測量模式; 保持頂峰值測量和連續(xù)測量。 ●規(guī)格 型式 KSD-0303 檢出方式 振蕩型表面電位傳感器 測定範(fàn)囲 ±１～±５０００Ｖ 模擬輸出 ０～±５００ｍＶ 測量精度 ±１０％以內(nèi) 測量基準(zhǔn)距離 １０ｍｍ 測量方式 連續(xù)測量 環(huán)境 溫度０～４０℃、濕度６５％ＲＨ以下（沒有結(jié)露） 電源 使用單4堿干電池2個連續(xù)4小時以上） 尺寸 本體：１１７（Ｄ）ｘ７０（Ｗ）ｘ２４（Ｈ）ｍｍ 探頭：１１７（Ｌ）ｍｍｘ１８Φ 質(zhì)量 約２２０ｇ（含干電池） 選擇 ＡＣ電源適配器（ＡＣ１００～２４０Ｖ） 記錄計連接電纜（Ｌ＝１０００ｍｍ） ●用途 ?測量各種電子設(shè)備(半導(dǎo)體IC，光頭，GMR頭等)的帶電電位。 ?測量基板、平面控電板等的電位分布。 ?測量其他帶電量較少的東西。