EXF7800是集西凡儀器多年貴金屬檢測技術和經驗，以獨特的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來能滿足貴金屬成分檢測的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成。 EXF7200--貴金屬檢測儀使用{gx}而實用的正比計數(shù)盒探測器，（項目聯(lián)系人金承義13538218521 qq;1005075059 以實在的價格定位，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結構及色彩設計，加上全軟件控制的自動調整移動平臺和切換準直器的裝置，使儀器操作更人性化、更方便。 應用領域： 黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。 金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。 主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)。 激發(fā)源： Mo靶的X光管 風冷 (無輻射） 測量點尺寸：1～2mm 樣品室: 長400 mm×寬: 300mm×高: 0～90 mm樣品放大成像系統(tǒng) 軟件： 菜單式軟件，帶硬件參數(shù)調整和數(shù)據(jù)評估及計算 計算機： 選擇配置 檢測器： 固定式半導體封氣正比計數(shù)器微處理器控制的檢測器和讀出電路 其它規(guī)格： 電壓: 100～127或200～240V,50/60 Hz {zd0}功率: 120W {zd0}處尺寸: 500mm*500mm*400mm 重量: 48kg 技術指標 分析范圍： 1%～99.99% 測量時間： 自適應 測量精度： ± 0.1% 測試環(huán)境： 常溫常態(tài) 分析元素： Au 、Ag 、Pt 、Pb、Rh 、Ru 、Cu、Zn 、Ni 、Cd﹑W X射線源： X射線光管 高壓器： 4～50Kv 分析： 多通道模擬 操作系統(tǒng): Windows2000/Me/XP 儀器廠家聯(lián)系人 金先生 13538218521 QQ:1005075059